ЮШКО, А. В.; ЗЕНКІН, М. А. Контроль товщини тонких плівок еліпсометричним методом. Технологія і техніка друкарства, [S. l.], n. 4(30), p. 88–91, 2010. DOI: 10.20535/2077-7264.4(30).2010.55700. Disponível em: https://ttdruk.vpi.kpi.ua/article/view/55700. Acesso em: 27 лис. 2024.